发明名称 SUBMERGED FINE PARTICLE MEASURING SYSTEM
摘要 <p>본 발명은 시료액중에 기포가 생기더라도, 이것을 염가의 구성으로 확실히 제거할 수 있고, 정도가 높은 측정을 할 수 있음과 동시에, 전체 구성이 콤팩트한 액중 미립자 측정 시스템을 제공한다. 본 발명은 측정셀내에 시료액을 유통시킨 상태로 측정셀에 대하여 빛을 조사하여, 시료액에 포함된 미립자로부터 생기는 산란광을 광검출기로 검출하고, 그 출력에 따라서, 미립자의 수를 계수하는 액중 미립자 측정 시스템에 있어서, 상기 측정셀의 상류측에 시료액을 냉각하여 시료액중에 혼재하는 거품을 용해시키기 위한 탈포 장치를 서로 직렬 상태로 설치함과 동시에, 상기 탈포 장치의 상부에 설치된 기포 배출구를 상기 측정셀의 하류측에 접속하고 있다.</p>
申请公布号 KR100298123(B1) 申请公布日期 2001.09.13
申请号 KR19990004930 申请日期 1999.02.12
申请人 null, null 发明人 유하라요시히토;스즈키리이치로
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址