TEST CIRCUIT ARRANGEMENT AND A METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF ELECTRIC COMPONENTS
摘要
Es ist eine elektrische Auswahleinheit zum Auswählen einer zu testenden elektrischen Komponente und ein Regelelement vorgesehen, mit dem ein parasitärer Spannungsabfall in der Test-Schaltungsanordnung kompensierbar ist.
申请公布号
WO0167507(A1)
申请公布日期
2001.09.13
申请号
WO2001DE00850
申请日期
2001.03.06
申请人
INFINEON TECHNOLOGIES AG;KOLLMER, UTE;LINNENBANK, CARSTEN;SCHAPER, ULRICH;THEWES, ROLAND
发明人
KOLLMER, UTE;LINNENBANK, CARSTEN;SCHAPER, ULRICH;THEWES, ROLAND
