| 主权项 |
1.一种晶片测试装置,其大体包括:一底座,其上设一固定座,其上架设一导引构件;一本体,系架设于该导引构件、依导引方向移动,一升降座套接于该本体、可上下移动,一驱动元件固设于该本体,该驱动元件每启动一次移动一单位距离,该驱动元件校正驱动该升降座上移动设定距离;一置物构件,系固设于该升降座、其上设有一定位槽,该定位槽供置放一晶片;一检测构件,系位于该置物构件上侧、架设于该固定座上,该检测构件架设有一基板,该基板设一测试座;藉由上述结构、该本体于该置物构件置放该晶片、移到测试区定位,逐次驱动该升降座逐次上升、该晶片接触该基板的测试座、该升降座上升高度经一控制器储存、俾下次启动该升降座上升高度的依据者。2.如申请专利范围第1项所述之晶片测试装置,其中,该本体端侧设有预定数目的导杆,该导杆靠合该升降度的导槽,该升降座依该导杆导正上下移动、并不偏移者。3.如申请专利范围第1或第2项所述之晶片测试装置,其中,该本体上设一限位元件,可阻挡该升降座上移停止,避免该置物构件碰击该基板者。4.如申请专利范围第1项所述之晶片测试装置,其中,该固定座上设有一侦测元件,可侦测该本体移到测试区正确定位,该升降上升、该晶片接触该基板的测试座者。图式简单说明:第一图系本创作晶片测试装置的整体示意图。第二图系本创作晶片测试装置的立体示意图。第三图系本创作晶片测试装置的本体移出置放晶片示意图。第四图系本创作晶片测试装置的本体移入定位示意图。第五图系本创作晶片测试装置的升降座上移使晶片接触基板测试示意图。第六图系本创作晶片测试装置的晶片接触基板测试放大示意图。 |
