| 发明名称 |
PROCEDE DE MESURE D'ADHERENCE D'UN REVETEMENT SUR UN SUBSTRAT |
| 摘要 |
<P>Des échos ultrasonores (L5, L8, etc. ) à travers le substrat (2) d'une éprouvette (1) sont recueillis et leurs amplitudes sont mesurées, leur décroissance étant une fonction de l'adhérence d'un revêtement (3) déposé sur la face opposée du substrat (2); des essais préliminaires sur des éprouvettes d'étalonnage donnent une fonction de corrélation qui permet de ne plus soumettre les éprouvettes (1) à des essais mécaniques coûteux et incertains.</P>
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| 申请公布号 |
FR2805893(A1) |
申请公布日期 |
2001.09.07 |
| 申请号 |
FR20000002669 |
申请日期 |
2000.03.02 |
| 申请人 |
SOCIETE NATIONALE D'ETUDE ET DE CONSTRUCTION DE MOTEURS D'AVIATION SNECMA |
发明人 |
CHATELLIER JEAN YVES FRANCOIS ROGER;RAMAHEFASOLO DANIEL SEBASTIEN |
| 分类号 |
G01N29/00;G01N19/04;G01N29/11;G01N29/14;G01N29/30;(IPC1-7):G01N29/20 |
主分类号 |
G01N29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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