| 主权项 |
1.一种自动化产能资讯整合系统,至少包含:第一资料库装置,用以储存总订单管理系统资料;第二资料库装置,用以储存厂房之产能资讯,并经由资讯网接收储存于该第一资料库装置之该总订单管理系统资料;一资讯网资料库装置,用以储存总订单管理系统之资讯网资料,并经由该资讯网,与该第一资料库装置相互传递该总订单管理系统资料;一资讯网伺服器装置,作为该资讯网之伺服器,用以接收储存于该资讯网资料库装置之资料,并与该第二资料库装置相互传递该产能资讯与该总订单管理系统资料;以及一电脑终端机,具有标准输入/输出装置,用以发送指令以及接收储存于该资讯网伺服器装置之该产能资讯与该总订单管理系统资料。2.如申请专利范围第1项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之第一资料库装置与上述之第二资料库装置,系藉由第一网路连接。3.如申请专利范围第1项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之第一资料库装置与上述之资讯网资料库装置,系藉由第二网路连接。4.如申请专利范围第1项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之第二资料库装置与上述之资讯网伺服器装置,系藉由第三网路连接。5.如申请专利范围第1项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之资讯网资料库装置与上述之资讯网伺服器装置,系藉由第四网路连接。6.如申请专利范围第1项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之资讯网伺服器装置与上述之电脑终端机,系藉由第五网路连接。7.如申请专利范围第1项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之资讯网资料库装置更与一传送自动化标准测试时间资料之系统连结,该传送自动化标准测试时间资料之系统至少包含:一资料库伺服器装置,用以储存资料;一分时多工电脑系统装置,与该资料库伺服器装置连结,用以控制该资料库伺服器装置;第一厂区资料库伺服器装置,用以储存第一厂区之测试时间资料,并与该分时多工电脑系统装置连结;一统计资料分析伺服器装置,用以分析测试时间资料,并与第一厂区资料库伺服器装置连结;第二厂区资料库伺服器装置,用以储存第二厂区之测试时间资料,并与该统计资料分析伺服器装置连结;以及一电脑系统,具有标准输入/输出装置,与该统计资料分析伺服器装置连结,用以控制该统计资料分析伺服器装置,并与该资讯网资料库装置连结。8.如申请专利范围第7项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之资料库伺服器装置系以TCP/IP网路通讯协定与上述之分时多工电脑系统装置连结。9.如申请专利范围第7项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之第一厂区资料库伺服器装置系以SQL网路与上述之分时多工电脑系统装置连结。10.如申请专利范围第7项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之第一厂区资料库伺服器装置系以SQL网路与上述之统计资料分析伺服器装置连结。11.如申请专利范围第7项之自动化产能资讯整合系统,其中上述之第二厂区资料库伺服器装置系以TCP/IP网路通讯协定与上述之统计资料分析伺服器装置连结。12.一种将产品配置量最佳化,使总测试时间最小化之方法,该产品配置方法至少包含下列步骤:建立一供需表,以定义一运输矩阵,该供需表之纵行系对应复数个测试机台之代号,该供需表之横列系对应复数个产品之代号,该运输矩阵之元素定义为运输格,该运输格记录产品标准测试时间与该产品配置量,而每一横列对应一第一参数値,每一纵行对应一第二参数値,基变数为有产品配置量之运输格内之标准测试时间,基变数个数为有产品分配量之运输格个数,且每一该运输格之基变数等于该运输格之第一参数値与第二参数値之和;从最小标准测试时间开始,由小而大依次将最大可能之该产品配置量,分配给该标准测试时间所对应之该运输格,直至各产品需求量分配完毕,得到一组分配结果为止;检验该运输矩阵之第一判别値,若该第一判别値不等于该基变数个数,则所得到之分配结果即是最佳分配结果;若该第一判别値等于基变数个数,则寻找该基变数个数最多的列,并设定该列之第一参数値为基本参数値;以基变数等于该运输格之第一参数値与第二参数値之和的关系,计算该运输矩阵所有之该第一参数値与该第二参数値;计算所有非基变数之第二判别値,若该第二判别値皆小于该基本参数値,则寻找该第二判别値为负数之绝对値中最大之储存格,以作为入基变数;寻找该产品配置量最小之储存格,以作为出基变数;利用该入基变数与该出基变数形成一链反应,以将该产品配置量重新分配;以及计算所有该非基变数之该第二判别値,若该第二判别値皆大于该基本参数値,则重新得到之分配结果即是最佳分配结果,否则继续寻找新的入基变数与新的出基变数,以形成一新的链反应,并将该产品配置量重新分配,直到该非基变数之该第二判别値皆大于该基本参数値为止。13.如申请专利范围第12项之产品配置方法,其中上述之第一判别値系藉由计算[列数+行数-1]而得。14.如申请专利范围第12项之产品配置方法,其中上述之第二判别値系藉由计算[基变数-第一判别値-第二判别値]而得。15.如申请专利范围第12项之产品配置方法,其中上述之基本参数値为一定値。16.如申请专利范围第12项之产品配置方法,其中上述寻找该基变数个数最多的列,并设定该列之第一参数値为该基本参数値之步骤,可以寻找该基变数个数最多的行,并设定该行之第二参数値为该基本参数値之步骤取代。17.如申请专利范围第12项之产品配置方法,其中上述建立一供需表之步骤,更包含下列步骤:设定一集合,使该集合包含复数个影响测试时间之因素;将该集合内复数个影响测试时间之因素,作组合运算,以得到复数个测试情况;以符合各别该复数个测试情况所对应之测试时间,形成一包含复数个测试时间之集合;将该包含复数个测试时间之集合作为统计母群,并计算统计资料之中位数,以作为该测试情况之标准测试时间。18.如申请专利范围第17项之产品配置方法,其中上述之将该包含复数个测试时间之集合作为统计母群,并计算统计资料之中位数,以作为该测试情况之标准测试时间之步骤,更包含去除1.5倍内四分位距以外资料之步骤。19.如申请专利范围第17项之产品配置方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为厂别。20.如申请专利范围第17项之产品配置方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为产品编号。21.如申请专利范围第17项之产品配置方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为测试机台之型号。22.如申请专利范围第17项之产品配置方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为测试机台之控制程式。23.一种标准测试时间设定方法,至少包含下列步骤:设定一集合,使该集合包含复数个影响测试时间之因素;将该集合内复数个影响测试时间之因素,作组合运算,以得到复数个测试情况;以符合各别该复数个测试情况所对应之测试时间,形成一包含复数个测试时间之集合;将该包含复数个测试时间之集合作为统计母群,并计算统计资料之中位数,以作为该测试情况之标准测试时间。24.如申请专利范围第23项之标准测试时间设定方法,其中上述之将该包含复数个测试时间之集合作为统计母群,并计算统计资料之中位数,以作为该测试情况之标准测试时间之步骤,更包含去除1.5倍内四分位距以外资料之步骤。25.如申请专利范围第23项之标准测试时间设定方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为厂别。26.如申请专利范围第23项之标准测试时间设定方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为产品编号。27.如申请专利范围第23项之标准测试时间设定方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为测试机台之型号。28.如申请专利范围第23项之标准测试时间设定方法,其中上述之复数个影响测试时间之因素之一为测试机台之控制程式。图式简单说明:第一图系以一供需表所建立之运输矩阵;第二图系表示将各产品需求量分配完毕后,所得到之运输矩阵;第三图系利用本发明「最佳化之产能配置演算法」之第一部分求出基本可行解之「新的相关运输矩阵」;第四图系表示以第一列第二行运输格为入基变数之运输矩阵,其中封闭线标示出链反应之路径;第五图系依照第四图所示之链反应所得到之新运输矩阵;第六图系表示以第一列第三行运输格为入基变数之运输矩阵,其中封闭线标示出链反应之路径;第七图系依照第六图所示之链反应所得到之新运输矩阵;第八图系表示以第三列第二行运输格为入基变数之运输矩阵,其中封闭线标示出链反应之路径;第九图系依照第八图所示之链反应所得到之新运输矩阵;第十图A系依照影响测试时间之因素,所得到之第一种分组结果;第十图B系依照影响测试时间之因素,所得到之第二种分组结果;第十图C系依照影响测试时间之因素,所得到之第三种分组结果;第十一图A系测试时间资料之对称性分布图;第十一图B系测试时间资料之右偏性分布图;第十一图C系测试时间资料之左偏性分布图;第十二图系本发明所揭露之产能资讯整合系统之系统架构;第十三图系本发明所揭露之自动化标准测试时间资料系统与网路架构。 |
