发明名称 Microscope with an electron beam for illumination
摘要 <p>Das Mikroskop (2) ist im wesentlichen dem Aufbau eines herkömmlichen Mikroskops ähnlich. Das Mikroskop (2) besteht aus einem Fußelement (4), auf dem eine Säule (6) aufsitzt. An der Säule (6) ist ein Arm (8) befestigt oder angeformt. In der Nähe des vorderen Endes (10) des Arms (8) befindet sich eine optische Einheit (12), die eine optische Achse (16) festlegt. Eins oder mehrere der am Revolver (20) befestigten Objektive (18) oder (22) sind als sogenannte Objektive für die Rasterelektronenmikroskopie ausgebildet (Elektronenstrahlobjektive). Die Größe der Elektronenstrahlobjektive ist mit der Größe der Objektive für herkömmliche Mikroskope vergleichbar. Durch die Anordnung der Objektive (18) und (22) auf einen Revolver (20), einem Schieber oder einem anderen mechanischen und/oder elektromechanischen Bauteil, kann schnell und einfach zwischen den verschiedenen Vergrößerungen oder Beleuchtungsarten gewechselt werden. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1126503(A1) 申请公布日期 2001.08.22
申请号 EP20010102931 申请日期 2001.02.08
申请人 LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH 发明人 HOHN, FRITZ JUERGEN, DR.
分类号 H01J37/22;H01J37/16;H01J37/18;H01J37/28;(IPC1-7):H01J37/28;G02B21/00 主分类号 H01J37/22
代理机构 代理人
主权项
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