发明名称 部份响应最大可能性之位元侦测装置
摘要 揭示一种部分响应最大可能性(PRML)位元侦测装置,用以由一输入资讯信号导出一位元序列。该装置包含输入装置用以接收输入资讯信号,抽样装置用以于抽样瞬间抽样输入资讯信号因而获得于抽样瞬间之输入资讯信号样本,转换装置用以转换样本阵列成为第一或第二二进制值位元阵列,侦测装置用以重复侦测该位元阵列n接续位元之接续序列态。该接续序列系经由每次及时移位n接续位元时间窗经产一位元获得,建立装置用以建立通过该等态之最佳路径,以及导出装置用以根据通过该等态之最佳路径导出一位元序列。根据本发明,n大于3,及具有n-l直接连续具有相等二进制值位元之n接续位元序列分配给相同态。特定具体例中n为大于4之奇数。现在具有此种n位元序列之n-2位元相同二进制值的n-2个直接连续位元之n接续位元序列分配给相同态。如此获得复杂度减低之PRML侦测装置。(图4)
申请公布号 TW451187 申请公布日期 2001.08.21
申请号 TW088116475 申请日期 1999.09.27
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 威廉玛利朱利亚康尼
分类号 G11B5/00 主分类号 G11B5/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种部分响应最大可能性(PRML)位元侦测装置,该装置系用于由一输入资讯信号导出一位元序列,该装置包含—输入装置(1),用以接收输入资讯信号,—抽样装置,用以以预定抽样频率于抽样瞬间ti抽样输入资讯信号,因而获得于该抽样瞬间ti之输入资讯信号之样本値,该样本频率具有与位元频率之关系,-计算装置,用以(a)对于抽样瞬间之各该复态sj,计算于抽样瞬间ti之最佳路径量度値PM(sj,ti),以及为了对各该复数态决定于恰在前一抽样瞬间ti-1之最佳前驱态,计算于该抽样瞬间可识别n接续位元序列之态,(b)透过较早期对较早抽样瞬间确立的最佳前驱态,朝向抽样瞬间ti-N回溯,由于抽样瞬间ti具有最低最佳路径量度値之态,确立最佳路径用以确立于该抽样瞬间ti-N之最佳态,(c)输出位元序列之n个位元中对应于该抽样瞬间ti-N确立的最佳态之至少一位元,(d)对随后抽样瞬间ti+1重复步骤(a)至(c),其特征在于n系大于3,以及具有n-1个相同二进制値之直接连续位元的n个接续位元序列配置给相同态。2.如申请专利范围第1项之装置,其中n为偶数例如等于4。3.如申请专利范围第1项之装置,其中n为大于4的奇数,及具有n-2个直接连续位元其具有此种n位元序列正中n-2个相同二进制値的n接续位元序列系配置于同一态。4.如申请专利范围第3项之装置,其中n=5。5.如申请专利范围第1项之装置,其中该计算装置适合经由组合于恰在前一抽样瞬间ti-1之最佳前驱态的最适当路径量度値与对应该态之分支量度値,获得一态之最适当量度値,该态之分支量度値系得自于该抽样瞬间之样本値及一参考幅度,该参考幅度系与该态有关联。6.一种部分响应最大可能性(PRML)位元侦测装置,该装置系用于由一输入资讯信号导出一位元序列,该装置包含—输入装置(1),用以接收输入资讯信号,—抽样装置,用以以预定抽样频率于抽样瞬间ti抽样输入资讯信号,因而获得于该抽样瞬间ti之输入资讯信号之样本値,该样本频率具有与位元频率之关系,-计算装置,用以(a)对于抽样瞬间之各该复态sj,计算于抽样瞬间ti之最佳路径量度値PM(sj,ti),以及为了对各该复数态决定于恰在前一抽样瞬间ti-1之最佳前驱态,计算于该抽样瞬间可识别n接续位元序列之态,(b)透过较早期对较早抽样瞬间确立的最佳前驱态,朝向抽样瞬间ti-N回溯,由于抽样瞬间ti具有最低最佳路径量度値之态,确立最佳路径用以确立于该抽样瞬间ti-N之最佳态,(c)输出位元序列之n个位元中对应于该抽样瞬间ti-N确立的最佳态之至少一位元,对随后抽样瞬间ti+1重复步骤(a)至(c),其特征在于该计算装置系于步骤(a)藉下列步骤对于抽样瞬间ti获得最佳路径量度値(a1)对该瞬间ti之态之正前一瞬间ti-1的全部可能前驱态,比较其最佳路径量度値,(a2)于正前一瞬间ti-1之前驱态选择具有最小最佳路径量度値之态作为最佳前驱态,(a3)组合于正前一抽样瞬间ti-1之最佳前驱态的最佳路径量度値与对应瞬间ti该态之分支量度値,因而获得该态之最佳路径量度値,该态之分支量度値系得自于抽样瞬间之样本値及一参考幅度,该参考幅度系与该态有关联。7.如申请专利范围第6项之装置,其特征在于n系大于3,及具有n-1个相同二进制値的直接连续位元之n接续位元序列配置于同一态。8.一种进行部分响应最大可能性(PRML)位元侦测之方法,该方法系于如申请专利范围第1或6项之装置中进行。图式简单说明:第一图显示对d=1通路码之3-分接态侦测器之有限态略图,第二图显示对d=1通路码之5-分接态侦测器之有限态略图,第三图显示位元错误率(BER),BER系呈对相位改变记录、对3-分接及5-分接PRML,对全响应ML(FRML)(也称作「长度推回侦测」以及对阈値侦测(TD)之切线磁碟倾斜度之函数。第四图显示5-分接PRML态侦测器之有限态略图,对d=1通路码之复杂度减低,第五图显示位元错误率(BER),BER系呈用于相位改变记录、5-分接及5-分接复杂度减低(r.c.)PRML、全响应ML(FRML)及阈値侦测(TD)之切线磁碟倾斜度之函数。第六图显示呈切线倾斜度之函数,对5-分接PRML撷取得之幅度,第七图显示PRML侦测技术,第八图再度显示对d=1通路码之3-分接态侦测器之有限态略图及此种侦测器之方格图,第九图a-第九图c显示通过各态之各种路径,第十图于第十图a显示对d=3通路码之5-分接态侦测器之有限态略图,及第十图b显示第十图a之5-分接PRML态侦测器之对应有限态略图但复杂度减低,第十一图于第十一图a显示对d=3通路码之7-分接态侦测器之有限态略图,及第十一图b显示第十一图a之7-分接PRML态侦测器之对应有限态略图但复杂度减低,以及第十二图显示PRML装置之具体例。
地址 荷兰