发明名称 光学检波器
摘要 一种光学检波器,可利用物镜上一增设的数字孔而获得稳定的再生信号;该光学检波器系包括有一物镜组,其具有一面对碟片的物镜,并具有一预设定的有效直径与至少两个在物镜外侧的辅助镜片,因以引导+第一阶的绕射光入于与经过物镜光线不同的路径,一光源用以经物镜照射光线于碟片,一夹于光源与物镜间的分光器,用以引导从碟片反射过来的光线进入与光源光线不同的路径,一光侦测器用以侦测自碟片反射而来且经过分光器的光线,及至少两具绕射光侦测器,用以侦测从辅助镜片入射过来的绕射光﹔由是,可获得一高度再生信号与一稳定的声迹信号。
申请公布号 TW451190 申请公布日期 2001.08.21
申请号 TW085115929 申请日期 1996.12.23
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 李哲雨;刘长勋
分类号 G11B7/00 主分类号 G11B7/00
代理机构 代理人 郑再钦 台北巿民生东路三段二十一号十楼
主权项 1.一种光学检波器,其中包括:一物镜组,含有一面对碟片的物镜,其具有一预设定的有效直径,及至少两个辅助镜片位于该物镜外侧,用以引导+第一阶绕射光入于与经过物镜光线不同的路径;一光源可经物镜照射其光线于该碟片;一夹于该光源与该物镜间的分光器,用以引导从该碟片反射过来的光线进入与该光源光线不同的路径;一光侦测器,用以侦测自该碟片反射而来且经过该分光器的光线;及至少二具绕射光侦测器,用以侦测从该辅助镜片入射而来的绕射光。2.如申请专利范围第1项所述之光学检波器,其中所述光源与物镜位于直线的光路径中,而该光侦测器位于该分光器所绕射的路径中。3.如申请专利范围第1项所述之光学检波器,其中所述物镜及光侦测器位于直线的光路径中,而该光源位于该分光器所绕射的路径中。4.如申请专利范围第1项或第2项或第3项所述之光学检波器,其中所述辅助镜片属于基于绕射原理之全像镜片。5.如申请专利范围第1项或第2项或第3项所述之光学检波器,其中所述物镜及辅助镜片为一体成型者。6.如申请专利范围第1项或第2项或第3项所述之光学检波器,其中更有一用以防止入射至物镜之光的传送之第一光控制机构设置于该物镜与辅助镜片之间。7.如申请专利范围第4项所述之光学检波器,其中更有一用以防止入射至物镜之光的传送之第一光控制机构设置于该物镜与辅助镜片之间。8.如申请专利范围第5项所述之光学检波器,其中更有一用以防止入射至物镜之光的传送之第一光控制机构设置于该物镜与辅助镜片之间。9.如申请专利范围第1项或第2项或第3项所述之光学检波器,其中更有一第二光控制机构设置于物镜之中心轴外围,用以控制介于入射光之近轴与远轴二区域间之中间区域之光。10.如申请专利范围第4项所述之光学检波器,其中更有一第二光控制机构设置于该物镜之中心轴外围,用以控制介于入射光之近轴与远轴二区域间之中间区域之光。11.如申请专利范围第5项所述之光学检波器,其中更有一第二光控制机构设置于该物镜之中心轴外围,用以控制介于入射光之近轴与远轴二区域间之中间区域之光。12.如申请专利范围第6项所述之光学检波器,其中更有一第二光控制机构更设置于该物镜之中心轴外围,用以控制介于入射光之近轴与远轴二区域间之中间区域之光。13.如申请专利范围第7项所述之光学检波器,其中更有一第二光控制机构更设置于该物镜之中心轴外围,用以控制介于入射光之近轴与远轴二区域间之中间区域之光。14.如申请专利范围第8项所述之光学检波器,其中更有一第二光控制机构更设置该物镜之中心轴外围,用以控制介于入射光之近轴与远轴二区域间之中间区域之光。图式简单说明:第一图为本发明第一具体实施例中光学检波器之构成图;第二图为本发明第二具体实施例中光学检波器之构成图;第三图为本发明第二具体实施例中光学检波器所用之物镜之正面构成图;第四图为本发明第三具体实施例中光学检波器所用之物镜之侧面构成图;第五图为本发明光学检波器所用四片光侦测器之平面图;第六图及第七图表示依碟片形式之不同而形成在第五图之四片光侦测器上之光点形状;第八图为本发明之光学检波器所用八片光侦测器之平面图;第九图第十一图表示依物镜与薄碟片间之距离不同而形成在第八图之八片光侦测器上之光点形状;第十二至第十四图表示依物镜与厚碟片间之距离不同而形成在第八图之八片光侦测器上之光点形状;及第十五图为本发明光学检波器光调变作用之说明用曲线图。
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