发明名称 Test socket for transistors and the like
摘要
申请公布号 US3381221(A) 申请公布日期 1968.04.30
申请号 US19650476277 申请日期 1965.08.02
申请人 THE BENDIX CORPORATION 发明人 SCHOLER HENRY GARDNER;NORDSTROM DONALD B.
分类号 G01R1/04 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利