发明名称 Verfahren zur Grabenätzung in Halbleitermaterial
摘要 Es wird als Hartmaske eine Maske aus einem gegen den Ätzangriff besonders widerstandsfähigen keramischen Material aufgebracht. Besonders geeignet ist dafür AlN (Aluminiumnitrid). Die hohe Resistenz dieses Materials gegen den Ätzangriff hat den weiteren Vorteil, daß es in der Regel genügt, die Maske als dünne Schicht oder Film aufzubringen. Damit ist auch die Zeit für die Herstellung dieser Masken innerhalb des Halbleiterfertigungsprozesses verringert, während gleichzeitig die Möglichkeit gegeben ist, unter Verwendung dieser Masken sehr tiefe Strukturen zu ätzen.
申请公布号 DE10004394(A1) 申请公布日期 2001.08.16
申请号 DE20001004394 申请日期 2000.02.02
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 ENGELHARDT, MANFRED
分类号 H01L21/033;H01L21/308;(IPC1-7):H01L21/308 主分类号 H01L21/033
代理机构 代理人
主权项
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