| 摘要 |
<p>L"invention concerne un dispositif de test comportant une connexion (2) devant être testée contenant un ou plusieurs composants analogues (11, 12). Pour tester selon l"invention un ou plusieurs composants analogues de la connexion (2), le dispositif de test comporte un composant numérique de type chaîne de test périphérique (21) pourvu d"un ou plusieurs éléments de contact (31-33), et le composant numérique de type chaîne de test périphérique (21) est connecté par l"intermédiaire d"un ou plusieurs éléments de contact à la connexion (2) devant être testée, de manière qu"au moyen d"une ligne de commande de chaîne de test périphérique numérique interne (41) du composant numérique de chaîne de test périphérique (21), et de manière commandée par une commande (51) du dispositif de test, une commande de niveau de tension peut être obtenue en fonction d"une valeur logique numérique à au moins un niveau de la connexion (2) testée comportant un ou plusieurs composants analogues. Ledit dispositif comporte également un instrument de mesure (60) mesurant ladite connexion testée (2) et le composant numérique de type chaîne de test périphérique (21) connecté à la connexion, afin de mesurer l"impact de la commande du niveau de tension destinée à la connexion testée. Ledit dispositif comporte également un moyen (70) d"analyse des informations de mesure fournies par l"instrument de mesure (60), déterminant un résultat de test concernant un ou plusieurs composants analogues de la connexion sur la base des informations de mesure fournies par l"instrument de mesure (60).</p> |
