| 摘要 |
<p>Testbarer Festwertspeicher für eine Datenspeicher-Redundanzlogik (55) mit Festwertspeichereinheiten (1) zum Abspeichern von ermittelten Fehleradressen von fehlerhaften Datenspeichereinheiten, wobei jede Festwertspeichereinheit (1 durch Anlegen von Eingabe-Testdaten und durch Vergleich ausgelesener Ausgabe-Testdaten mit erwarteten Soll-Ausgabe-Testdaten auf ihre Funktionsfähigkeit überprüfbar ist.</p> |
