发明名称 Verfahren zum Herstellen tiefdiffundierter n-leitender Gebiete in einem p-dotierten Siliziumsubstrat
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen tiefdiffundierter n-leitender Gebiete (8, 9) in einem p-dotierten Siliziumsubstrat (1), bei dem für den n-Fremdstoff Schwefel verwendet wird, das in Silizium relativ rasch diffundiert.
申请公布号 DE19948906(C2) 申请公布日期 2001.08.09
申请号 DE19991048906 申请日期 1999.10.11
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SCHULZE, HANS-JOACHIM
分类号 H01L21/265;H01L29/06;H01L29/167;(IPC1-7):H01L21/266 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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