| 发明名称 |
Built-in self-repair circuit for embedded memory and method for repairing the memory |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2358721(A) |
申请公布日期 |
2001.08.01 |
| 申请号 |
GB20000013911 |
申请日期 |
2000.06.07 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS COMPANY LIMITED |
发明人 |
JIN-YOUNG * PARK;HEON-CHEOL * KIM |
| 分类号 |
G06F12/16;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/44;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G06F11/20 |
主分类号 |
G06F12/16 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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