| 摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé d'inspection d'un panneau à cristaux liquides à matrice passive, permettant de détecter plus facilement la rupture d'une électrode, et un dispositif permettant une telle inspection, ainsi qu'un procédé d'inspection d'un panneau d'affichage à plasma et un dispositif permettant une telle inspection. L'invention concerne également un procédé permettant de détecter la rupture d'une pluralité d'électrodes (100, 101) comprises dans un panneau (B). Ce procédé consiste à sélectionner une de ces électrodes (100, 101), à appliquer une tension à variation temporelle à une extrémité d'une électrode (101a), à mesurer par une capacité la tension apparaissant sur l'électrode (100a) qui recoupe perpendiculairement l'électrode (101a) sélectionnée, suite à l'application de cette tension dans cette électrode (101a), et à évaluer par ordinateur (6) si la tension mesurée se situe à l'intérieur d'un intervalle prédéterminé.</p> |
