| 发明名称 |
Scanning probe microscope assembly and method for making spectrophotometric near-field optical and scanning measurements |
| 摘要 |
A scanning probe microscope assembly that has an atomic force measurement (AFM) mode, a scanning tunneling measurement (STM) mode, a near-field spectrophotometry mode, a near-field optical mode, and a hardness testing mode for examining an object.
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| 申请公布号 |
US6265711(B1) |
申请公布日期 |
2001.07.24 |
| 申请号 |
US19960906602 |
申请日期 |
1996.12.10 |
| 申请人 |
GENERAL NANOTECHNOLOGY L.L.C. |
发明人 |
KLEY VICTOR B. |
| 分类号 |
G01Q10/00;G01Q10/02;G01Q10/04;G01Q20/00;G01Q20/02;G01Q30/02;G01Q60/04;G01Q60/10;G01Q60/18;G01Q60/24;G01Q70/02;G01Q80/00;G02B21/00;G03F1/00;G03F7/20;G11B5/23;G11B5/31;(IPC1-7):H01J37/00;G01N29/122 |
主分类号 |
G01Q10/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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