| 摘要 |
<P>Ce dispositif comprend une source (60) de production d'une impulsion de lumière, un diviseur (64) que rencontre l'impulsion de lumière, qui de ce fait divisée en deux impulsions (A, B); un support pour le dispositif à semiconducteurs, un second diviseur (74), que rencontrent les impulsions (A, B) après avoir interagi avec le dispositif à semiconducteurs, ce qui a pour effet que les impulsions sont séparées spatialement, des premier et second détecteurs (D1, D2, 78, 82) agencés de manière à détecter chacun l'une des deux impulsions séparées, et un soustracteur (84) couplé aux premier et second détecteurs.Application notamment au test de circuits intégrés à semiconducteurs à l'aide de faisceaux laser.</P> |
