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Die Erfindung betrifft einen Prober für Drucksensoren (1) im Waferverbund oder vereinzelte Drucksensoren mit einer Aufnahme für die Drucksensoren sowie mit Einrichtungen zur elektrischen Kontaktierung (7) der elektrischen Anschlüsse wenigstens eines der Drucksensoren. Durch die Erfindung soll es ermöglicht werden, insbesondere sich noch im Waferverbund befindliche Drucksensoren, auf ihre Funktion zu überprüfen. Entsprechend der Erfindung ist eine Druckkopf (9) vorgesehen, der einen einseitig offenen Innenraum (10) aufweist, der mit seiner offenen Stirnseite (11) derart auf den Drucksensor (1) aufsetztbar, daß der Innenraum (10) durch diesen dicht verschlossen ist. Dadurch kann ein statischer oder dynamischer Druck vorgegebener Größe und Dauer auf das Sensorelement (4) wenigstens ausgeübt werden, so daß das Sensorelement (4) aus seiner Ruhelage bewegt wird. Gleichzeitig werden die elektrischen Anschlüsse (7) des ausgwählten Drucksensors (1) mit einer elektrischen Auswerteeinheit (21) verbunden.
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