| 摘要 |
<p>본 발명은 문자 인식, 회로 기판의 결점 검사, 지문 인식 등 여러 분야에서 광범위하게 사용될 수 있는 이진 이미지의 외곽선 세선화 방법으로써, 스캐너 등의 영상 입력 장치를 통해서 입력된 이미지 패턴에 대해 각 화소마다 인접 화소의 흑화소 개수에 관계되는 가중치를 결정 부여하고, 가중치에 따라 기정의된 3×3 검사 템플리트(template)와 기설정된 삭제 조건에 의해 각 화소의 삭제 여부를 결정하고, 종료 조건을 만족할 때까지 상기 과정을 반복함으로써 세선화된 이미지 패턴을 얻도록 함으로써, 화소 삭제시 모든 삭제 조건을 다 검색하는 것이 아니라 각 가중치에 해당하는 검사 템플리트 검출시 각 가중치에 해당하여 기설정된 삭제 조건만을 검사하며 화소 복원 과정을 거치지 않으면서 필요한 이미지 패턴 정보의 양을 최소의 양으로 줄일 수 있는 효과가 있다.</p> |
