摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Kombination eines Mikroskops (1) mit einer Messeinrichtung (11), insbesondere einer Diagnoseeinrichtung, die während einer mit dem Mikroskop (1) durchgeführten Operation oder Untersuchung an einem Objekt einsetzbar ist. Während der Operation oder Untersuchung sind Objektdaten, die von der Messeinrichtung (11) ermittelt bzw. festgestellt werden, im Mikroskop (1) als optisches Signal direkt anzeigbar. Bei einem Über- oder Unterschreiten von Schwellenwerten und/oder Intervallwerten der Messdaten des Objekts ist ein Warnsignal auslösbar, über welches gegebenenfalls weitere Vorgänge, wie Ab- oder Umschaltvorgänge, automatisch ablaufbar sind.
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