| 主权项 |
1.一种晶片推力测试夹具,其包含:一压板,其设有一本体,该本体设有一凹陷部,该凹陷部设有一透孔;及一底座,其设有槽道对应于该压板之透孔;在进行推晶试验时,该底座系固定于一机台,先将导线架置于该底座之槽道上,再将该压板之凹陷部压覆该导线架,该导线架之晶片自该压板之透孔透出使该导线架固定于该底座上,以供一推力测试机之推杆施于该晶片上做推晶试验。2.依申请专利范围第1项之晶片推力测试夹具,其包含有二螺丝,该底座设有至少二第一螺孔,该压板之本体设有至少二第二螺孔,该二螺丝分别穿设该压板之第二螺孔旋合于该底座之第一螺孔,该压板压覆该导线架并固定于该底座上。3.依申请专利范围第2项之晶片推力测试夹具,其中该底座设有至少二第一通孔,该压板设有至少二第二通孔并对齐该第一通孔,该第一通孔可容置一弹性元件,一导杆穿设该压板之第二通孔、该弹性元件及该底座之第一通孔,该弹性元件介于该压板及该底座之间,当该螺丝穿设该压板之第二螺孔旋合于该底座之第一螺孔时,该弹性元件保持弹性抵推于该压板及该底座之间,使该导线架可更稳固的固定于该底座上。4.依申请专利范围第2项之晶片推力测试夹具,其中该压板之本体设有至少二耳,该至少二第二螺孔设于该耳以供该螺丝穿设。图式简单说明:第一图:本创作较佳实施例晶片推力测试夹具之立体分解图;第二图:本创作较佳实施例晶片推力测试夹具夹持导线架前之剖视图;第三图:本创作较佳实施例晶片推力测试夹具夹持导线架后之剖视图;及第四图:本创作较佳实施例晶片推力测试夹具夹持导线架后之上视图。 |
