发明名称 Sensor für gleichzeitige Rasterkraftmikroskopie und optische Nahfeldmikroskopie
摘要
申请公布号 DE19713746(C2) 申请公布日期 2001.06.28
申请号 DE1997113746 申请日期 1997.04.03
申请人 INSTITUT FUER MIKROTECHNIK MAINZ GMBH;OMICRON VAKUUMPHYSIK GMBH 发明人 RUF, ALEXANDER;BERGHAUS, THOMAS;ABRAHAM, MICHAEL;GUETHNER, PETER
分类号 B06B1/06;G01H1/12;G01N29/06;G01Q60/06;(IPC1-7):G12B21/02;H01J37/28;G01H17/00 主分类号 B06B1/06
代理机构 代理人
主权项
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