| 摘要 |
<p>L'invention porte sur un appareil et un procédé d'identification automatique de défauts dans des systèmes visioniques de mesure à capacité améliorée d'auto-diagnostic en matière de métrologie et de poursuite. Le procédé et l'appareil valident les performances des opérations de poursuite et détectent les perturbations pouvant être causées par le bruit électronique, la contamination ambiante, etc. A cet effet, on créé et stocke un modèle mathématique de la cible visualisée par le système, et on visualise dans le champ une cible dont les repères sont identifiés. Les positions des repères détectés de la cible visualisée sont comparées à celles du centroïde des repères dans le modèle mathématique. Lorsqu'un repère est obscurci ou sale, ses caractéristiques géométriques (par exemple centroïde, brillance, lissage des bords, surface, ou forme) diffèrent des valeurs réelles ou idéales des caractéristiques. Les valeurs représentant les repères détectés sont écartées lors que le décalage dépasse un critère prédéterminé ou lorsque leurs propriétés diffèrent de l'idéal. Si le nombre restant de repères détectés est en déça d'un seuil prédéterminé, un message d'avertissement apparaît ou une erreur se produit. Ainsi, quand on détecte un défaut qui dégrade les performances au delà d'une tolérance préétablie, le défaut est signalé à l'attention et une action correctrice est suggérée.</p> |
