发明名称 形成半球形矽晶粒之方法
摘要 一种形成半球形矽晶粒之方法。包括下列步骤:形成一掺杂非晶矽层于基底上;对此掺杂非晶矽层进行晶粒播种及回火直到HSG矽层形成;于回火制程使HSG矽晶粒长晶;以及进行一化学乾蚀刻,自HSG矽层表面移除一未掺杂矽薄层。
申请公布号 TW442833 申请公布日期 2001.06.23
申请号 TW088108044 申请日期 1999.05.18
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 林大成;林庆福
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种半球形矽晶粒之形成方法,包括下列步骤:形成一掺杂非多晶矽层于一基底上;对该非晶矽层进行晶粒播种及回火,直到形成一半球形矽晶粒层;在回火过程使该半球形矽晶粒层成长;以及对该半球形矽晶粒层表面进行一化学乾蚀刻制程,以去除该半球形矽晶粒层表面之一非掺杂矽层。2.如申请专利范围第1项所述之半球形矽晶粒之形成方法,其中更包括于约摄氏750度进行一PH3处理步骤,以增加该半球形矽晶粒层之掺质浓度。3.如申请专利范围第1项所述之半球形矽晶粒之形成方法,其中更包括进行一离子植入步骤,以增加该半球形矽晶粒层之掺质浓度。4.如申请专利范围第1项所述之半球形矽晶粒之形成方法,其中该化学乾蚀刻步骤使用含卤素蚀刻气体。图式简单说明:第一图是根据本发明一较佳实施例,一种形成半球形矽晶粒之方法流程图;以及第二图至第五图是根据本发明一较佳实施例,在一非晶矽层上形成一层HSG-Si之方法的剖面示意图。
地址 新竹科学工业园区园区三路一二一号