METHOD FOR PRODUCING A PROBE FOR THE SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPY AND A PROBE PRODUCED ACCORDING TO SAID METHOD

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer Sonde für die optische Rasternahfeldmikroskopie und eine mit diesem Verfahren hergestellte Sonde. Hierzu wird die als Sonde zu verwendende Glasfaser nach dem Ätzprozess nass abgeschliffen, um eine sehr scharfe Spitze mit einem kleinen Spitzenradius im Nanometer-Bereich und gleichzeitig eine glatte oberfläche zu erhalten. Der Konuswinkel der Sonde lässt sich durch Variation des Schleifwinkels im Bereich zwischen 20 DEG und 90 DEG einstellen. Die derart hergestellten Sonden ermöglichen Untersuchungen mit einem hohen Transmissionsverhältnis in der Grössenordnung von mindestens 10<-3> und einer Auflösung deutlich unter 100 nm.