| 摘要 |
Bir elyaf numunesine (12) bakmak için bir numune penceresi (14) ihtiva eden bir elyaf siniflandirma düzenegi (20). Bir isik kaynagi (18) elyaf numunesine yönlendirilen ve bu numune tarafindan yansitilan (34) isigi (16) verir. Isiga karsi duyarli olan bir dedektör (10) yansiyan isigi alacak bir sekilde konumlandirilir ve elyaf numunesinin açikligini, kirmiziligini ve sariligini tespit eder. Prosesleme vasitalari (30) elyaf numunesinin hiç olmazsa kismen, açikligina ve sariligina dayali bir biçimde, elyaf numunesini bir ön siniflandirma islemine tabi tutar. Prosesleme vasitalari, ayni zamanda, selektif bir sekilde, elyaf numunesinin hiç olmazsa kismen, kirmiziligina dayali bir biçimde ön siniflandirmayi nihai bir siniflandirma haline ayarlar. Isiga karsi duyarli olan dedektör bir spektrometre (28), bir kamera (38), veya üç foto diyotluk (32,26,36) bir setten birisini veya daha fazlasini ihtiva eder. (DEVAMI VAR)
|
