发明名称 双读头光学尺应用与校正方式
摘要 一种双读头光学尺应用与校正方式,主要系一般之加工与测量之机台的不同运动台面,设以横置之单一光学本尺,于本尺搭配两组读头,使同一轴向之两个或两个以上之不同运动台面的移动得以确实作精准的量测,以提升机台之运转功能;该运动台面之另侧又设有一绝对式光学本尺,于本尺与读头之刻度上设以参考点,俾将运动平台间之绝对位置与相对找出,以增机台之精度及功能之掌控者。
申请公布号 TW441786 申请公布日期 2001.06.16
申请号 TW089219647 申请日期 2000.11.13
申请人 联星科技股份有限公司 发明人 董文山
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项 1.一种双读头光学尺应用与校正方式,主要系设有一包含线性滑轨、导螺杆,以及枢接于导螺杆之马达、轴承座之量测机台,于该量测机台设以两个或两个以上之运动台面,其特征在于:该等运动台面系设有一呈跨置之单支光学尺于该光学尺设以两组读头,使量测机台得以因单一光学尺将同一轴向之不同运动台面的移动关系确实的作精准之量测;以及于该等运动台之相对侧设以单支之绝对式光学尺及两组读头,将运动台面间之绝对与相对位置找出,以构成校验之目的者。图式简单说明:第一图系光学尺之结构示意图。第二图系习知测量机台之结构示意图。第三图系习知光学尺与测量机台之组装示意图。第四图系本创作之组装示意图。第五图系本创作之另一实施例组装示意图。
地址 新竹巿中央路三三一巷七十二号