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发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR BUILT-IN SELF TEST OF INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP1105876(A1) 申请公布日期 2001.06.13
申请号 EP19980945762 申请日期 1998.08.21
申请人 CREDENCE SYSTEMS CORPORATION 发明人 LEPEJIAN,Y.D.;MARANDJIAN, HRANT;GHUKASYAN, HOVHANNES;KRAUS, LAWRENCE
分类号 G01R31/28;G06F11/22;G06F12/16;G11C11/401;G11C11/413;G11C16/02;G11C17/00;G11C29/12;G11C29/18;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/319 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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