发明名称 | 会聚度测量装置及其测量方法 | ||
摘要 | 一种会聚度测量装置和方法,该装置包括:在阴极射线管上获得某图形的第一摄像机;一个光路分离部件将阴极射线管上的图形分成左和右立体图像;第二摄像机获得立体图像;一个估计部件依据立体图像对某图形的位置和状态进行估计;一个控制部分测量由第一摄像机获得的图像的会聚度并对对会聚度进行补偿,还包含会聚度的测量方法,分别包含形成图形,计算会聚度,获得立体图像,估计CRT的位置和状态及补偿等步骤。 | ||
申请公布号 | CN1299147A | 申请公布日期 | 2001.06.13 |
申请号 | CN00130216.7 | 申请日期 | 2000.10.30 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金完洙 |
分类号 | H01J9/42;G01R31/24 | 主分类号 | H01J9/42 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 姜丽楼 |
主权项 | 1.一种基于形成在阴极射线管上的某图形测量会聚度的装置,该装置包含;一个第一摄像机,用于获得形成在阴极射线管上的某图形;光路分离部件,用于将形成在阴极射线管上的某图形分成左和右分开的立体图像;一个第二摄像机,用于获得经光路分离部件分离的立体图像;估计部件,用于依据通过第二摄像机获得的立体图像估计某图形的位置和状态;一个控制部分,用于测量由第一摄像机获得的图形会聚度,并对依据阴极射线管的估计位置和状态对会聚度进行补偿。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |