发明名称 |
Verfahren zur Korrektur von Artefakten in Magnetresonanzbildern |
摘要 |
Das Verfahren korrigiert Artefakte in Magnetresonanzbildern, die in einem Magnetresonanzgerät von transversalen Magnetfeldkomponenten verursacht werden, die quer zu einem Grundmagnetfeld (B¶0¶) des Magnetresonanzgeräts ausgerichtet sind. Dabei umfaßt das Magnetresonanzgerät ein Gradientenspulensystem (10) zum Erzeugen von magnetischen Gradientenfeldern (G) und einen Hochfrequenzsender (12) zum Anregen von Magnetresonanzsignalen. Während einer Meßsequenz wird für einen Korrekturbereich (z¶0¶) dem Hochfrequenzsender (12) ein Frequenzkorrekturwert (DELTAomega) zugeführt, wobei der Frequenzkorrekturwert (DELTAomega) in Abhängigkeit der transversalen Magnetfeldkomponenten bestimmt wird, und/oder es wird ein Zusatzgradientenfeld (DELTAG) zum Kompensieren der transversalen Magnetfeldkomponenten erzeugt.
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申请公布号 |
DE19931210(C2) |
申请公布日期 |
2001.06.07 |
申请号 |
DE19991031210 |
申请日期 |
1999.07.06 |
申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
WICKLOW, KARSTEN;HEID, OLIVER |
分类号 |
G01R33/48;A61B5/055;G01R33/565;G01R33/60;(IPC1-7):G01R33/565;G01R33/387 |
主分类号 |
G01R33/48 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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