发明名称 光纤型光隔离器性能测试仪
摘要 本发明涉及光纤型光隔离器性能测试仪,包括光栅外腔半导体激光器1、光功率计2、5,光谱分析部件8,光纤型光定向耦合器4,光纤型光偏振控制器6,光路选通器3,22,光调制全反射器9,光锁相放大器10,温度控制器23。本发明的优点是待测光纤型光隔离器只需一次接入,不需调向,便可完成综合测试其各性能。可在测试光隔离度的过程中同时测出入射光偏振态对其光隔离度的影响;精确测出在某一光波长某一偏振态下的光隔离度。
申请公布号 CN1066822C 申请公布日期 2001.06.06
申请号 CN96103424.6 申请日期 1996.03.22
申请人 北京邮电大学 发明人 吴铁;王文野
分类号 G01J1/18;G01M11/02 主分类号 G01J1/18
代理机构 北京申翔知识产权服务公司专利代理部 代理人 吴熙
主权项 1、光纤型光隔离器性能测试仪,包括带高性能光隔离器的宽带可调谐光栅外腔半导体激光器(1)、高灵敏度光功率计(2、5)、光谱分析部件(8)其特征在于还包括一个高性能纤型光定向耦合器(4)、其输入端(11)与可调谐光栅外腔半导体激光器(1)相连接,另一输入端(12)与光功率计(2)连接,其输出端(13)与光纤型光偏振控制器(6)连接,另一输出端(14)与光路选通器(3)连接;光纤型光偏振控制器(6)的另一端(19)与待测光纤型光隔离器(7)连接,待测光纤型光隔离器(7)与另一光路选通器(22)的端(20)连接,该光路选通器(22)的双向输出端之一(15)与光调制全反射器(9)连接,其双向输出的另一端(16)与光功率计(5)连接;该光功率计(5)还与光路选通器(3)的输出端(17)连接,该光路选通器(3)的另一端输出端(18)与光谱分析部件(8)连接;光调制全反射器(9)与光锁相放大器(10)电连接,光锁相放大器(10)与光功率计(2)电连接。
地址 100088北京市邮电大学66信箱
您可能感兴趣的专利