| 主权项 |
1.一种用于将穿综构件之洞眼(4)对齐方法,其特征是侦测出洞眼(4)的位置以及根据位置的侦测结果,穿综构件(1)藉着沿其纵轴方向作位移校正此位置。2.如申请专利范围第1项之方法,其中是洞眼(4)于其纵轴方向的横向位置是从外面以穿线构件用的引导器(27,28,32)预先定义的。3.如申请专利范围第1项之方法,其中洞眼位置系依光学方式侦侧而得。4.如申请专利范围第1项之方法,其中洞眼位置系依机械方式侦侧而得。5.如申请专利范围第1项之方法,其中核正以离散信号激发的。6.一种用于施行如申请专利范围第1项之方法的装置,其特征是提供了一个感测器(11,30,31),而此感测器可以连接于其内并通过洞眼的平面。7.如申请专利范围第6项之装置,其中该感测器包括有一个光源(30,31,40,41,50)。8.如申请专利范围第7项之装置,其中该感测器包括有相对于洞眼呈横向配置且设计成龙连接于其内的两个光势垒(30,31)或是光纤(40,41)。9.如申请专利范围第8项之装置,其中这些光纤(31,31,40,41)是配置成两个互相平行而呈倾斜或是水平的平面。10.如申请专利范围第9项之装置,其中取决于由一个整体部分(60)结合了穿经钩的中心对准工作以及对丝线洞眼位置的侦测。11.如申请专利范围第6项之装置,其中该感测器(31,31,40,41)系设计成可以连接于其内的机械式引导器(32)。12.如申请专利范围第6项之装置,其中该感测器(31,31,40,41)系设计成一个心轴(11),此心轴是配置于载具(12)上使之能对洞眼作横向的移动。13.如申请专利范围第6项之装置,其中该感测器是分派到一个用来将穿线构件沿其纵轴方向作位移的装置。14.一种具有用于织机中将穿综构件之洞眼(4)对齐之装置的经线穿经机,其特征是取决于用来侦测洞眼的第一位置感测器(11,30,31,40,41)以及藉着已沿其纵轴方向作了位移的穿综构件用来校正洞眼位置作为第一位置之侦测结果的装置。图式简单说明:第一图为根据本发明第一实施例的视图,其中显示能对洞眼位置作机械式侦测的发明装置。第二图为对应到第一图之部分发明装置的。第三图为根据本发明第二实施例的视图,其中显示能对洞眼位置作光学式侦测的发明装置。第四图为对应到第三图之部分发明装置的。第五图a,第五图b为第二实施例之较佳变型中整体部分的两个斜视图。 |
