METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND EVALUATING THE SCATTERING CHARACTERISTICS OF SURFACES

摘要

Um die Justageprobleme der exakt spekularen Ausrichtung von Lichtquelle (11) und Photometer (20) zur Ermittlung reflexabhängiger Kenngrössen auf einer Oberfläche (12) zu umgehen, werden nicht mehr die Reflexe von Teststrahlen aus Lichtquellen mit unterschiedlichen Aperturen mittels eines einkanaligen Photometers mit fixierter Apertur aufgenommen, sondern der Reflex eines z.B. parallelen Teststrahles wird von einem ortsauflösenden Photometer mit einstellbarer Apertur in Form von - in der Umgebung des abgebildeten Helligkeitszentrums - aus einem Array (21) auswählbaren Detektorelementen erfasst. Die Abbildung der richtungsabhängigen Reflexintensitäten in eine vom Photometer aufzunehmende Ortsdarstellung erfolgt mittels eines Projektionsschirmes (17), bevorzugt jedoch im Wege einer konoskopischen Abbildung mittels einer kleinaperturigen Linse statt des Schirmes oder mittels einer grossaperturigen Linse, wobei dann der Teststrahl von der bildseitigen (rückwärtigen) Fokusebene her aus auswählbaren Positionen durch diese Linse hindurch der Abbildungsrichtung entgegen auf den Messfleck in der vorderen (objektseitigen) Fokusebene der Linse gerichtet ist. So wird mit elektronisch bzw. mathematisch einstellbarer Detektorapertur die inverse BRDF gebildet.