发明名称 自动对准金属矽化物的制造方法
摘要 在一具有一P井与一N井的基底上形成一第一图案化的光阻,暴露出该P井。在该P井处形成一N型金氧半导体。进行一第一非晶化植入步骤,然后去除该第一光阻。在该基底上形成一第二图案化光阻,暴露出该N井。在该 N井处形成一P型金氧半导体。接着,进行一第二非晶化植入步骤,其中该第二非晶化植入步骤的植入剂量小于该第一非晶化植入步骤的植入剂量。去除该第二光阻。在该基底上形成自动对准金属矽化物。
申请公布号 TW434710 申请公布日期 2001.05.16
申请号 TW089101953 申请日期 2000.02.03
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 王学文
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种自动对准金属矽化物的制造方法,其包括下列步骤:在具有一P井与一N井的一基底上,形成一暴露出该P井的第一光阻;在该P井处形成一N型金氧半导体;进行一第一非晶化植入步骤;去除该第一光阻;在该基底上形成一暴露出该N井的第二光阻;在该N井处形成一P型金氧半导体;进行一第二非晶化植入步骤,其中该第二非晶化植入步骤的植入剂量小于该第一非晶化植入步骤的植入剂量;去除该第二光阻;以及在该基底上形成一自动对准金属矽化物。2.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该第一非晶化植入步骤的植入剂量约为2E14ions/cm3。3.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该第二非晶化植入步骤的植入剂量约为1E14ions/cm3。4.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该第一非晶化植入步骤的植入剂量约为2E14ions/cm3,而该第二非晶化植入步骤的植入剂量约为1E14ions/cm3。图式简单说明:第一图A至第一图C绘示习知一种自动对准金属矽化物制造方法的剖面示意图;第二图A至第二图C绘示本发明一较佳实施例之自动对准金属矽化物制造方法的剖面示意图;以及第三图为本发明较佳实施例之金属矽化物与习知制程之金属矽化物片电阻的结果。
地址 新竹科学工业园区新竹市力行二路三号