发明名称 可调整解析度之光学扫瞄器
摘要 本创作系有关于一种可调整解析度之光学扫瞄器,该扫瞄器系包括一机壳、一光程装置、一驱动装置以及一可移动式马达,该机壳之内部设有扫瞄路径可供光程装置于其中来回扫瞄,该驱动装置系由一皮带轮组以及一第一摩擦轮组合而成,而该可移动式马达在其输出轴上设有一第二摩擦轮,该第二摩擦轮之轮缘系与第一摩擦轮之轮面相接触,当马达转动时第二摩擦轮系与第一摩擦轮相互摩擦,并带动皮带轮组的转动使光程装置进行扫瞄,由于本创作之马达系为可移动式,因此可调整第二摩擦轮与第一摩擦轮之接触位置,以改变光程装置之扫瞄速度,进而获得具有可调整解析度功能之光学扫瞄器。
申请公布号 TW435911 申请公布日期 2001.05.16
申请号 TW088218370 申请日期 1999.10.29
申请人 力捷电脑股份有限公司 发明人 曾仁寿
分类号 H04N1/04 主分类号 H04N1/04
代理机构 代理人 郑煜腾 台北巿松德路一七一号二楼;李长铭 台北巿中山区南京东路二段二十一巷八号二楼
主权项 1.一种可调整解析度之光学扫瞄器,包括:一机壳,该机壳系为一中空壳体,其内部设有扫瞄路径,其上方设有透明之文稿承载板以承载扫瞄文稿;一光程装置,系由复数个镜片组以及一电荷耦合元件组合而成,该光程装置系在机壳内部之扫瞄路径中来回扫瞄,上述镜片组系接收文稿之影像并将其传递至电荷耦合元件;一驱动装置,系用于驱动光程装置进行扫瞄,其更包括一第一摩擦轮;以及一可移动式马达,该马达之输出轴上设有一第二摩擦轮,该第二摩擦轮之轮缘系与第一摩擦轮之轮面相接触,该马达系藉由第二摩擦轮与第一摩擦轮的摩擦,并带动驱动装置使光程装置进行扫瞄;由于该马达系为可移动式,因此可以改变第二摩擦轮之轮缘与第一摩擦轮之轮面之接触位置,以调整光程装置之扫瞄速度,而达到调整光学扫瞄器解析度之目的。2.如申请专利范围第1项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该驱动装置系为一皮带轮组,该皮带轮组系包括一环形皮带以及二皮带轮,该环形皮带系与光程装置相结合,且其中之一皮带轮系与第一摩擦轮相结合。3.如申请专利范围第1项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该机壳更包括一可掀开之上盖,该上盖系可以将文稿承载板完全覆盖住。4.如申请专利范围第1项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该光程装置之镜片组系包括复数个反射镜以及一透镜。5.如申请专利范围第1项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该光程装置更包括一光源以扫瞄文稿,并产生文稿影像。6.如申请专利范围第5项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该光程装置之光源系为一长形灯管。7.如申请专利范围第1项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该第一摩擦轮之轮面系经过粗糙化方式处理。8.如申请专利范围第1项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该可移动式马达更包括一调整座,该调整座可以移动马达以控制第二摩擦轮之轮缘与第一摩擦轮之轮面之接触位置。9.一种可调整解析度之光学扫瞄器,包括:一机壳,该机壳系为一中空壳体,其内部设有扫瞄路径,其上方设有透明之文稿承载板以承载扫瞄文稿;一光程装置,系由复数个镜片组以及一电荷耦合元件组合而成,该光程装置系在机壳内部之扫瞄路径中来回扫瞄,上述镜片组系接收文稿之影像并将其传递至电荷耦合元件;一驱动装置,系用于驱动光程装置进行扫瞄,其更包括一第一摩擦轮;以及一可移动式马达,该马达之输出轴上设有一第二圆锥摩擦轮,该第二圆锥摩擦轮之圆锥面系与第一圆锥摩擦轮之圆锥面相接触,该马达系藉由第二圆锥摩擦轮与第一圆锥摩擦轮的摩擦,并带动驱动装置的转动使光程装置进行扫瞄;由于该马达系为可移动式,因此可以改变第二圆锥摩擦轮与第一圆锥摩擦轮之接触位置,以调整光程装置之扫瞄速度,而达到调整光学扫瞄器解析度之目的。10.如申请专利范围第9项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该驱动装置系为一皮带轮组,该皮带轮组系包括一环形皮带以及二皮带轮,该环形皮带系与光程装置相结合,且其中之一皮带轮系与第一圆锥摩擦轮相结合11.如申请专利范围第9项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该机壳更包括一可掀开之上盖,该上盖系可以将文稿承载板完全覆盖住。12.如申请专利范围第9项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该光程装置之镜片组系包括复数个反射镜以及一透镜。13.如申请专利范围第9项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该光程装置更包括一光源以扫瞄文稿,并产生文稿影像。14.如申请专利范围第13项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该光程装置之光源系为一长形灯管。15.如申请专利范围第9项所述之可调整解析度之光学扫瞄器,其中该可移动式马达更包括一调整座,该调整座可以移动马达以控制第二圆锥摩擦轮与第一圆锥摩擦轮之接触位置。图式简单说明:第一图系为习知技术之光学扫瞄器之示意图。第二图系为本创作之可调整解析度之光学扫瞄器之第一实施例图。第三图系为本创作之可调整解析度之光学扫瞄器之第二实施例图。
地址 新竹科学工业园区研发二路一之一号