| 主权项 |
1.一种阴极射线管之制造方法,系为具备:自动设定有关阴极射线管的构成构件的固有资讯之过程;在前述阴极射线管的构成构件施予1个以上的处理之过程;在于前述处理过程,自动测定处理条件之过程;使其与前述固有资讯对应而自动地记忆在前述测定过程所得到之测定値之过程;及检查在前述处理过程所得到的构成构件,判定良否之过程。2.如申请专利范围第1项之方法,其中进行前述处理之设备的资讯,与前述固有资讯对应而自动地被记忆。3.如申请专利范围第1项之方法,其中测定用于前述处理之零件的特性値,所得到之测定値与前述固有资讯对应而自动地被记忆。4.如申请专利范围第1项之方法,其中测定进行前述处理的中途之半制品的特性値;所得到之测定値与前述固有资讯对应而自动地被记忆。5.如申请专利范围第1项之方法,其中当在于前述良否判定过程判别为不良时,不良码与前述固有资讯对应而自动地被记忆。6.一种阴极射线管之制造方法,系为具备:自动设定有关阴极射线管的面板的固有资讯之过程;在前述阴极射线管的面板内面,进行复数个处理,形成萤光体膜图案之过程;在于前述光体膜形成过程,自动测定处理条件之过程;使其与前述固有资讯对应而自动地记忆在前述测定过程所得到的测定値;检查在前述处理过程所得到的面板,判定良否之过程;及当在于前述良否判定过程被判定为不良时,使其与前述固有资讯对应而自动地记忆不良码之过程。7.如申请专利范围第6项之方法,其中进行前述处理之设备的资讯,与前述固有资讯对应而自动地被记忆。8.如申请专利范围第6项之方法,其中测定用于前述处理之零件的特性质;所得到之测定値与前述固有资讯对应而自动地被记忆。9.如申请专利范围第6项之方法,其中测定进行前述处理的中途之半制品的特性値;所得到之测定値与前述固有资讯对应而自动地被记忆。10.一种阴极射线管之制造装置,系为具备:自动设定有关阴极射线管的构成构件的固有资讯之手段;在前述阴极射线管的构成构件施予1个以上的处理之手段;自动测定前述处理手段的处理条件之手段;使其与前述固有资讯对应而自动地记忆利用前述测定手段所得到的测定値之控制器;及检查利用前述处理手段所得的构成构件,判定良否之手段。11.如申请专利范围第10项之装置,其中进而具备登录进行前述处理之设备的资讯之设备资讯登录手段;前述控制器,使其与固有资讯对应而自动地记忆利用前述设备资讯登录手段所被登录之设备资讯。12.如申请专利范围第10项之装置,其中进而具备测定用于前述处理之零件的特性质之零件特性测定手段;前述控制器,使其与前述固有资讯对应而自动地记忆利用前述零件特性测定手段所被测定之测定値。13.如申请专利范围第10项之装置,其中进而具备测定进行前述处理的中途之半制品的特性値之半制品特性测定手段;前述控制器,使其与前述固有资讯对应而自动地记忆利用前述半制品特性测定手段所被测定之测定値。14.如申请专利范围第10项之装置,其中进而具备当在于前述良否判定过程被判定为不良时,关于不良品将不良码输入到前述控制器之不良码输入手段;前述控制器,使其与前述固有资讯对应而自动地记忆利用前述不良码输入手段所被输入之不良码。15.如申请专利范围第10项之装置,其中进而具备使用相关性资料库,使其对应后登录利用前述固有资讯及前述测定手段所得到的测定値之资讯登录手段。图式简单说明:第一图系为表示一般性阴极射线管的面板之平面图。第二图系为表示一般性阴极射线管的面板之正面图。第三图系为表示被形成在一般性阴极射线管的面板内面之黑色膜的说明图。第四图系为表示扩大被形成在阴极射线管的面板内面之萤光面的一部分之断面图。第五图系为表示本发明一实施形态其阴极射线管之制造装置的系统方块图。第六图系为表示本发明一实施形态其阴极射线管之制造过程图。第七图系为表示在于本发明一实施形态其阴极射线管之制造过程所利用之涂敷装置的一部分之构造图。第八图系为表示本发明一实施形态其阴极射线管之制造过程之被印刷到面板的面板资讯之面板侧面图。第九图系为表示在于本发明一实施形态其阴极射线管之制造过程所收集之资料的显示例之雷达图形。第十图系为表示在于本发明一实施形态其阴极射线管之制造过程所收集之资料的显示例之图表。 |
