发明名称 |
碲镉汞分子束外延材料真空热处理方法 |
摘要 |
一种碲镉汞分子束外延材料真空热处理方法,热处理在分子束外延的真空腔体中或真空的石英安瓿中完成,热处理样品所需的CdTe覆盖层通过外延后直接生长的方法制备,杜绝了外界对样品的任何沾污。用该工艺进行空穴导电型热处理的成功率达100%,空穴浓度可在4×10#+[15]到5×10#+[6]cm#+[-3]范围内随意控制。同时,材料的组分和表面形貌的完整性得到了很好的保持。 |
申请公布号 |
CN1065291C |
申请公布日期 |
2001.05.02 |
申请号 |
CN98111054.1 |
申请日期 |
1998.09.03 |
申请人 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
发明人 |
杨建荣;王善力;陈新强;方维政;巫艳;于梅芳;何力 |
分类号 |
C30B33/02 |
主分类号 |
C30B33/02 |
代理机构 |
上海华东专利事务所 |
代理人 |
高毓秋 |
主权项 |
1.一种碲镉汞分子束外延材料真空热处理方法,包括碲镉汞分子束外延工艺、在碲镉汞分子束外延材料上生长一层CdTe覆盖层工艺和热处理工艺,其特征在于:a.带有CdTe覆盖层的碲镉汞样品直接在分子束外延的生长室中进行真空热处理,或者将该碲镉汞样品置于真空封闭的石英安瓿中进行热处理;b.热处理温度在200℃到320℃范围内,通过改变热处理温度将碲镉汞外延材料的77K温度下的空穴载流子浓度调整在5×1015到5×1016cm-3之间。 |
地址 |
200083上海市玉田路500号 |