| 主权项 |
1.一种光学单元之光学特性自动量测系统,用以量测一待测光学单元之光学特性,该自动量测系统包含:一光源装置,用以提供量测时之光源;至少一组测试图样,配置于前述光源装置与前述待测光学单元之间;一影像撷取装置,包含至少一影像撷取单元,并用来撷取穿过前述待测光学单元之前述测试图样的影像,并转成电讯号;以及,一资料处理模组,系连接于前述影像撷取装置,用以根据该影像撷取装置所转换之电讯号计算前述待测光学单元之光学特性;其中穿过前述待测光学单元之影像直接照射于前述影像撷取装置。2.如申请专利范围第1项之光学单元之光学特性自动量测系统,还包含一承载台,用来承载前述光源装置、测试图样、以及待测光学单元,该承载台并可相对于前述影像撷取装置移动。3.如申请专利范围第2项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述待测光学单元为镜头(Lens)。4.如申请专利范围第3项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中该自动量测系统可量测前述镜头之解析度(MTF)、焦深(Depth of focus)、横向彗差(Lateral Chromatic Aberration)、畸变(Distortion)、相对照度(Relative Illumination)。5.如申请专利范围第4项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述测试图样形成于透明基板。6.如申请专利范围第5项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述测试图样包含黑白线对图样、0%透光率图样、100%透光率图样与同心矩形图样。7.如申请专利范围第2项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述待测光学单元为投影机之光机引擎。8.如申请专利范围第7项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述自动量测系统可量测前述投影机之光机引擎之解析度、焦深、横向彗差、畸变、相对照度、以及LCD面板旋转角度。9.如申请专利范围第8项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述测试图样形成于投影机之LCD面板上。10.如申请专利范围第9项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述测试图样包含黑白线对图样、0%透光率图样、100%透光率图样与同心矩形图样。11.如申请专利范围第2项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中前述影像撷取装置包含与前述测试图样之影像位置相对应之复数个影像撷取单元。12.如申请专利范围第2项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中该影像撷取装置包含:一影像撷取单元;一水平驱动机构;以及,一垂直驱动机构;藉以利用前述水平驱动机构与垂直驱动机构将前述影像撷取单元移动至前述测试图样之相对应位置。13.如申请专利范围第10与11项之光学单元之光学特性自动量测系统,其中该影像撷取单元为选自于由彩色线形电荷偶合元件(line CCD)、彩色面形电荷偶合元件(area CCD)、彩色线形接触式影像感测器(line CIS)、彩色面形接触式影像感测器(area CIS)等元件所组成之群组中的元件。14.一种光学单元之光学特性自动量测方法,用以量测待测光学单元之光学特性,该光学特性自动量测方法包含:提供测试图样;以光源装置照射前述测试图样,并使光线通过前述待测光学单元而投射于一影像撷取装置;以及以资料处理模组根据前述影像撷取装置之讯号来计算前述光学装置之光学特性。15.如申请专利范围第13项之光学特性自动量测方法,其中前述自动量测方法可量测前述待测光学单元之解析度、焦深、横向彗差、畸变、相对照度。16.如申请专利范围第13项之光学特性自动量测方法,其中前述自动量测方法可量测前述投影机之解析度、焦深、横向彗差、畸变、相对照度、LCD面板旋转角度。图式简单说明:第一图为本发明光学特性自动量测系统之示意图。第二图为本发明之测试图样模组的示意图。第三图为本发明之黑白线对的测试图样。第四图为影像撷取装置之构造,其中(A)为固定式、(B)为移动式。第五图为经由影像撷取单元所撷取之黑白线对的水平与垂直波形。第六图为不同距离d与解析度MTF之关系曲线图。第七图为经由彩色影像撷取单元所撷取之黑白线对的不同颜色之波形。第八图为系统示意图,描述本发明另一实施例之光学特性自动量测系统。 |
