| 主权项 |
1.一种Burn-in故障测试方法,藉以于一电器进行Burn-in过程中,测出该电器之一暂态不良现象,其包含:测试该电器之一特定信号,于该特定信号正常时,发出一第一信号,而于异常时,发出一第二信号,并维持住该第二信号;以及重复测试该电器之该特定信号,于该第一信号及该第二信号同时发出时,测出该暂态不良现象。2.如申请专利范围第1项所述之Burn-in故障测试方法,其中该特定信号为该电器之一电源。3.如申请专利范围第2项所述之Burn-in故障测试方法,其中该电源系为一12伏特电源。4.如申请专利范围第3项所述之Burn-in故障测试方法,其中该12伏特电源降至8.5伏特以下时,代表异常。5.如申请专利范围第2项所述之Burn-in故障测试方法,其中该电源系为一5V电源。6.如申请专利范围第5项所述之Burn-in故障测试方法,其中该5伏特电源降至3.3伏特以下时,代表异常。7.如申请专利范围第2项所述之Burn-in故障测试方法,其中该电源系为一3.3V电源。8.如申请专利范围第7项所述之Burn-in故障测试方法,其中该3.3伏特电源降至2伏特以下时,代表异常。9.如申请专利范围第2项所述之Burn-in故障测试方法,其中该电源系为一PG(power good)电源。10.如申请专利范围第9项所述之Burn-in故障测试方法,其中该PG电源降至3伏特以下时,代表异常。11.如申请专利范围第1项所述之Burn-in故障测试方法,其中该第一信号为一绿色光信号。12.如申请专利范围第1项所述之Burn-in故障测试方法,其中该第二信号为一红色光信号。13.如申请专利范围第1项所述之Burn-in故障测试方法,其中该第一信号及该第二信号同时发出时为一橙色光信号。14.一种Burn-in故障测试装置,藉以于一电器进行Burn-in过程中,测出该电器之一暂态不良现象,其包含:一第一测试电路,系藉以测试该电器之一特定信号,而于该特定信号正常时发出一第一信号,而于该特定信号异常时,关闭该第一信号;以及一第二测试电路,系电连接至该第一测试电路,于该电器之该特定信号异常时,发出一第二信号,并维持住该第二信号,以于下一burn-in周期中,根据该第一信号及该第二信号同时发出而测出该暂态不良现象。15.如申请专利范围第14项所述之Burn-in故障测试装置,其中该第一测试电路系包含:一光耦合电晶体,藉以耦合该特定信号;一缓冲闸,系电连接至该光耦合电晶体,于该特定信号异常时,关闭该第一信号;以及一第一发光二极体,系电连接至该缓冲闸,于Burn-in进行时,发出该第一信号,而于该特定信号异常时,关闭之。16.如申请专利范围第15项所述之Burn-in故障测试装置,其中该第一发光二极体系为一绿色光二极体,而该第一信号系为其所发出之一绿色光信号。17.如申请专利范围第15项所述之Burn-in故障测试装置,其中该缓冲闸系由一及闸之输入并联而成。18.如申请专利范围第14项所述之Burn-in故障测试装置,其中该第二测试电路系包含:一电子开关;一第二发光二极体;其中该电子开关系藉以于该特定信号异常时,触发该第二发光二极体,并使该发光二极体维持发出该第二信号。19.如申请专利范围第18项所述之Burn-in故障测试装置,其中该电子开关包含二及闸及二SCR。20.如申请专利范围第18项所述之Burn-in故障测试装置,其中该第二发光二极体系为一红色发光二极体,而该第二信号系指该红色发光二极体发出之红色光信号。21.如申请专利范围第14项所述之Burn-in故障测试装置,其中该第一信号及该第二信号同时发出时,系为一橙色光信号。22.如申请专利范围第14项所述之Burn-in故障测试装置,其中该暂态不良信号系指该电器于一burn-in周期测试过程中,出现异常而发出第二信号,而于下一次burn-in周期时,并无异常现象而发第一信号者。图式简单说明:第一图:本案方块图。第二图:本案具体实施例。 |
