发明名称 Apparatus for testing integrated circuits
摘要
申请公布号 GB2104226(A) 申请公布日期 1983.03.02
申请号 GB19820021120 申请日期 1982.07.21
申请人 MICHAEL FREDERICK * SMITH 发明人 MICHAEL FREDERICK * SMITH
分类号 G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/3193
代理机构 代理人
主权项
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