发明名称 制造半导体器件的方法
摘要 制造半导体器件的方法,能够改善半导体层和电极间的粘附性和接触电阻。在利用淀积法等形成的绝缘层的整个表面上形成抗蚀膜,在其中提供对应于p侧电极图形的开口。在p侧接触层由绝缘层保护的同时,利用氧的光灰化处理去除抗蚀剂的残留物。用抗蚀膜作掩模,按自对准方式在绝缘层中形成开口并形成p侧电极。可抑制对p侧接触层的损伤。p侧电极可形成在p侧接触层的洁净表面上。
申请公布号 CN1291793A 申请公布日期 2001.04.18
申请号 CN00106907.1 申请日期 2000.04.21
申请人 索尼株式会社 发明人 小林俊雅;长沼香
分类号 H01L33/00;H01L21/283 主分类号 H01L33/00
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王永刚
主权项 1.一种制造半导体器件的方法,所说半导体器件包括半导体层和与半导体层接触的电极,所说方法包括以下步骤:至少在半导体层的上表面上形成由抗腐蚀材料构成的保护层;在保护层的上表面上形成掩模层,然后在掩模层中形成开口,开口对应于所说电极的图形;在所说半导体层由保护层保护的同时,去除在掩模层中形成开口时产生和附着于开口内的残留物;利用所说掩模层选择性去除保护层的一个区域,该区域对应于所说开口,从而选择性暴露半导体层;及利用所说掩模层,在半导体层的暴露表面上形成电极。
地址 日本东京