发明名称 Detector for large wafers areas
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse, welche eine schnellere und genauere Erfassung der Röntgenfluoreszenzspektren einer Probe erlaubt. Im Meßaufnehmer der Vorrichtung kommen DRIFT-Detektoren zum Einsatz, bei denen entstehende Ladungsträger durch eine mittels Ringelektroden erzeugte Radialkomponente des elektrischen Feldes in Richtung einer sehr klein ausgeführten Sammelanode beschleunigbar sind. Durch die niedrige Kapazität der Sammelanode ist eine schnellere und genauere Messung der im Detektorinneren erzeugten Ladungsträger möglich. Mittels eines Arrays, bestehend aus derartigen DRIFT-Detektoren, läßt sich die Röntgenfluoreszenz einer Probe ortsaufgelöst vermessen. Aus den erhaltenen Röntgenfluoreszenzspektren lassen sich die Oberflächenkonzentrationen der verschiedenen Fremdatome in der Probe ortsaufgelöst bestimmen. <IMAGE></p>
申请公布号 EP1092974(A2) 申请公布日期 2001.04.18
申请号 EP20000120316 申请日期 2000.09.15
申请人 GEMETEC GESELLSCHAFT FUR MESSTECHNIK UND TECHNOLOGIE MBH 发明人 HUBER, ANTON
分类号 G01N23/223;H01L21/66;(IPC1-7):G01N23/223;G01T1/29 主分类号 G01N23/223
代理机构 代理人
主权项
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