| 发明名称 |
Stress test apparatus for a semiconductor memory device |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2319853(B) |
申请公布日期 |
2001.04.18 |
| 申请号 |
GB19970023607 |
申请日期 |
1997.11.07 |
| 申请人 |
* HYUNDAI ELECTRONICS INDUSTRIES CO LTD |
发明人 |
JAE JIN * LEE |
| 分类号 |
G11C29/36;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/36 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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