| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING AND BURN-IN METHODOLOGY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
SG79963(A1) |
申请公布日期 |
2001.04.17 |
| 申请号 |
SG19980000654 |
申请日期 |
1998.03.28 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS SINGAPORE (PTE) LTD |
发明人 |
CHEE KIANG YEW;KIM HOCH TEY;MIN YU CHAN;JEFFREY TUEK FOCK TOH |
| 分类号 |
G01R1/02;G01R31/00;G01R31/02;G01R31/28;G01R31/316;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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