发明名称 旋转基材上加工流体之导入
摘要 一种基材加工系统,其中一基材系在一加工室内依一旋转轴线旋转,一加工流体导入加工室,及一或多项加工流体之特征变数系沿一大致垂直于一平面之方向做选择性控制,该平面垂直于供基材依此旋转之轴线。加工气体之特征变数可由以下步骤做选择性控制:自一位置导入一第一加工流体至加工室内,该位置间隔于一大致含有基材表面之参考平面上方有一第一距离;及自一位置导入一第二加工流体至加工室内,该位置间隔于参考平面上方有一第二距离,且其大于第一距离。
申请公布号 TW429271 申请公布日期 2001.04.11
申请号 TW087116337 申请日期 1998.10.01
申请人 应用材料公司 发明人 布莱恩L.哈斯;詹姆士V.泰兹;梅瑞迪斯J.威廉斯
分类号 C23C16/52;C23C16/44 主分类号 C23C16/52
代理机构 代理人 蔡坤财 台北巿松江路一四八号十二楼
主权项 1.一种用于加工一基材之装置,包含: 一加工室; 一可旋转之基材支承件,系位于加工室内且建构以 依一旋转轴线转动基材;及 一流体输送系统,系建构及设置以导送一加工流体 进入加工室,且可沿着一垂直于一平面之方向以对 于一或多项加工流体之特征变数做选择性控制。2 .如申请专利范围第1项之装置,其中流体输送系统 包含衆多流体注入器,以将加工流体导入加工室。 3.如申请专利范围第1项之装置,其中流体输送系统 包含: 一第一流体注入器,系建构及设置以将加工流体导 入加工室,且定位一第一距离于一大致含有基材表 面之参考平面上方;及 一第二流体注入器,系建构及设置以将加工流体导 入加工室,且定位于参考平面上方一第二距离,其 大于第一距离。4.如申请专利范围第3项之装置,其 中第一流体注入器系建构及设置以自一第一位置 导入加工流体至加工室内,而第二流体注入器系建 构及设置以自一第二位置导入加工流体至加工室 内,第二位置沿一大致垂直于一平面之方向以间隔 于第一位置,该平面垂直于旋转轴线。5.如申请专 利范围第2项之装置,其中一或多枚流体注入器包 含一流体孔,其具有一长度。6.如申请专利范围第3 项之装置,其中一或多枚流体注入器包含一长孔状 流体孔。7.如申请专利范围第3项之装置,其中第一 流体注入器具有一含有一特征流动面积之第一流 体孔,及第二流体注入器具有一含有一不同特征流 动面积之第二流体孔。8.如申请专利范围第7项之 装置,其中第二流体孔之特征流动面积系大于第一 流体孔之特征流动面积。9.如申请专利范围第3项 之装置,进一步包含一第三流体注入器,系建构及 设置以导入流体至加工室内,且定位于参考平面上 方一段大于第二距离之第三距离。10.如申请专利 范围第9项之装置,其中第一流体注入器、第二流 体注入器、及第三流体注入器系沿一大致垂直于 一平面之方向呈间隔,该平面垂直于旋转轴线。11. 如申请专利范围第9项之装置,其中第一流体注入 器、第二流体注入器、及第三流体注入器具有各 别之流体孔,且各孔设有一不同之特征流动面积。 12.一种用于加工一基材之装置,包含: 一加工室; 一可旋转之基材支承件,系位于加工室内且建构以 依一旋转轴线转动基材;及 一流体输送系统,具有一第一流体注入器,系建构 及设置以自一第一位置导入一加工流体至加工室 内,一第二流体注入器,系设置以自一第二位置导 入一加工流体至加工室内,第二位置沿一大致垂直 于一平面之方向而间隔于第一位置,该平面垂直于 旋转轴线。13.一种用于加工一基材之装置,包含: 一加工室; 一可旋转之基材支承件,系位于加工室内且建构以 依一旋转轴线转动基材;及 一流体输送系统,具有一第一流体注入器,系建构 及设置以自一第一位置导入一加工流体至加工室 内,一第二流体注入器,系设置以自一第二位置导 入一加工流体至加工室内,第二位置沿一大致垂直 于一平面之方向而间隔于第一位置,该平面垂直于 旋转轴线;其中第一与第二流体注入器具有各别之 输出端,其特征为沿着平行于平面之各别线上具有 各别之长度,该平面即垂直于旋转轴线者,第二流 体注入器之长度系大于第一流体注入器之长度。 14.一种用于加工一基材之装置,包含: 一加工室; 一可旋转之基材支承件,系位于加工室内且建构以 依一旋转轴线转动基材;及 一流体输送系统,具有一第一流体注入器,系建构 及设置以自一第一位置导入一加工流体至加工室 内,一第二流体注入器,系设置以自一第二位置导 入一加工流体至加工室内,第二位置沿一大致垂直 于一平面之方向而间隔于第一位置,该平面垂直于 旋转轴线;其中第一与第二流体注入器具有各别之 输出端,其特征为沿着垂直于平面之各别线上具有 各别之宽度,该平即垂直于旋转轴线者,第二流体 注入器之宽度系大于第一流体注入器之宽度。15. 一种用于加工一基材之装置,包含: 一加工室; 一可旋转之基材支承件,系位于加工室内且建构以 依一旋转轴线转动基材;及 一流体输送系统,具有一第一流体注入器,系定位 于一大致含有基材表面之参考平面上方一第一距 离处,及衆多之其他流体注入器,各定位于参考平 面上方一段大于第一距离之第二距离处。16.一种 加工一基材之方法,包含: 相关于一旋转轴线而在一加工室内转动一基材; 将一加工流体导入加工室;及 沿着一大致垂直于一平面之方面而选择性控制一 或多项加工流体特征变数,该平面系垂直于旋转轴 线。17.如申请专利范围第16项之方法,其中加工气 体之特征变数系由以下步骤做选择性控制: 自一位置导入一第一加工流体至加工室内,该位置 间隔于一大致含有基材表面之参考平面上方有一 第一距离;及 自一位置导入一第二加工流体至加工室内,该位置 间隔于参考平面上方有一第二距,且其大于第一距 离。18.如申请专利范围第17项之方法,其中第二加 工流体系自一位置导入加工室,该位置系相隔于第 一加工流体沿一方向导入加工室之位置,该方向大 致垂直于一与旋转轴线垂直之平面。19.如申请专 利范围第17项之方法,其中第一加工气体具有大致 相同于第二加工流体者之成份。20.如申请专利范 围第17项之方法,其中第一加工气体具有一不相同 于第二加工流体者之成份。21.如申请专利范围第 17项之方法,其中第一加工流体包含一反应物浓度 及第二加工流体包含一相同反应物之较大浓度。 22.如申请专利范围第21项之方法,其中第一加工流 体包含一稀释物。23.如申请专利范围第17项之方 法,其中第二加工流体包含一反应物及第一加工流 体大致无任意之反应物。24.如申请专利范围第17 项之方法,其中第一加工流体及第二加工流体系以 基材旋转时一基材周缘区域相关于一圆弧移行之 速度之0.01与100倍之间之流率导入。25.如申请专利 范围第17项之方法,其中基材系以50至240rpm速率旋 转。26.如申请专利范围第17项之方法,其中第一加 工流体及第二加工流体系以0.15与15米/秒之间流速 导入加工室。27.如申请专利范围第17项之方法,其 中第一加工流体及第二加工流体系以0.4与8米/秒 之间流速导入加工室。图式简单说明: 第一图系一基材加工系统之侧视截面图。 第二图系一加工气体流过一基材表面上方之示意 图。 第三图系一加工气体自三数流体注入器注入一含 有一旋转基材之加工室之示意图。 第四图A系一流线之项面示意图,说明一加工气体 自一基材表面上方不同距离处之一流体注入器导 入一加工室内。 第四图B系一流线之项面示意图,说明一加工气体 自一基材表面上方相同距离且不同水平位置处之 流体注入器导入一加工室内。 第五图A系一流体输送系统之示意图。 第五图B系沿5B-5B线所取用于第五图A流体输送系统 之一块状扩散器截面侧视图。 第五图C系用于定义第五图A流体输送系统所用流 体注入器之块状扩散器前视示意图。 第六图A-第六图C系定义不同流体注入器之面板前 视示意图。 第七图系一膜厚度图表,其以第六图C之流体注入 器将一气体导入一加工室,而二膜曝露于气体而生 长,表示通过一基材表面之径向位置函数。
地址 美国
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