发明名称 静电放电保护电路的制造方法
摘要 一种静电放电保护电路的制造方法。将基底区分为内部电路区与静电放电保护电路区,于基底上形成一层共形的金属层与光阻层,定义静电放电保护电路区之部分金属层与光阻层与去除静电放电保护电路区之间隙壁,再进行离子植入使静电放电保护电路区之轻掺杂汲极形成重掺杂,随后去除光阻,形成自行对准矽化物及后续其他制程。或可以一层图案化的金属层覆盖内部电路区与静电放电保护电路区之部份源/汲极,于不须去除间隙壁的情况下,以不同角度植入离子,使静电放电保护电路区之轻掺杂汲极形成重掺杂,再形成自行对准矽化物及后续其他制程。
申请公布号 TW429442 申请公布日期 2001.04.11
申请号 TW088102495 申请日期 1999.02.20
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 徐振聪
分类号 H01L21/28;H01L23/60 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种静电放电保护电路的制造方法,适用于一基 底上,该基底区分为一内部电路区与一静电放电保 护电路区,该内部电路区形成有一第一金氧半电晶 体,该静电放电保护电路区形成有一第二金氧半电 晶体,该第一金氧半电晶体至少包括有一第一闸极 、一第一间隙壁、一第一源/汲极与一第一轻掺杂 汲极,该第二金氧半电晶体至少包括有一第二闸极 、一第二间隙壁、一第二源/汲极与一第二轻掺杂 汲极,该第一源/汲极、该第一轻掺杂汲极与该第 二源/汲极、该第二轻掺杂汲极具有相同之离子型 态,该方法至少包括: 于该基底上形成一金属层,该金属层与该基底共形 ; 于该金属层上形成一光阻层; 定义该光阻层,使该光阻层图案化,以暴露出该第 二闸极、该第二间隙壁与部份该第二源/汲极上的 该金属层,与邻近该第二间隙壁之该第二源/汲极 相接触的该金属层亦裸露而未被该光阻层覆盖; 以该光阻层为罩幕,去除未被该光阻层覆盖之部份 该金属层; 以该光阻层为罩幕,去除该第二间隙壁; 进行一离子植入步骤,使该第二源/汲极与该第二 轻掺杂汲极转换为重掺杂之一第三源/汲极; 去除该光阻层; 进行一快速热制程,使得与该第一闸极、该第一间 隙壁、该第三源/汲极相接触之部份该金属层形成 一自行对准矽化物;以及 去除未反应之部份该金属层。2.如申请专利范围 第1项所述之静电放电保护电路的制造方法,其中 该金属层之形成方法包括溅镀法。3.如申请专利 范围第1项所述之静电放电保护电路的制造方法, 其中该金属层之材质包括钛。4.如申请专利范围 第1项所述之静电放电保护电路的制造方法,其中 该金属层之材质包括钴。5.如申请专利范围第1项 所述之静电放电保护电路的制造方法,其中定义该 光阻层之方法包括微影蚀刻法。6.如申请专利范 围第1项所述之静电放电保护电路的制造方法,其 中去除未被该光阻层覆盖之部份该金属层的方法 包括乾蚀刻。7.如申请专利范围第1项所述之静电 放电保护电路的制造方法,其中去除该第二间隙壁 之方法包括乾蚀刻。8.如申请专利范围第1项所述 之静电放电保护电路的制造方法,其中该离子植入 步骤所植入之离子与该第一源/汲极、该第一轻掺 杂汲极、该第二源/汲极具有相同之离子型态。9. 如申请专利范围第1项所述之静电放电保护电路的 制造方法,其中去除该光阻层之方法包括湿蚀刻。 10.一种静电放电保护电路的制造方法,适用于一基 底上,该基底区分为一内部电路区与一静电放电保 护电路区,该内部电路区形成有一第一金氧半电晶 体,该静电放电保护电路区形成有一第二金氧半电 晶体,该第一金氧半电晶体至少包括有一第一闸极 、一第一间隙壁、一第一源/汲极与一第一轻掺杂 汲极,该第二金氧半电晶体至少包括有一第二闸极 、一第二间隙壁、一第二源/汲极与一第二轻掺杂 汲极,该第一源/汲极、该第一轻掺杂汲极与该第 二源/汲极具该第二轻掺杂汲极有相同之离子型态 ,该方法至少包括: 于该基底上形成一金属层,该金属曾与该基底共形 ; 于该金属层上形成一光阻层; 定义该光阻层,使该光阻层图案化,以暴露出该第 二闸极、该第二间隙壁与部份该第二源/汲极上的 该金属层,与邻近该第二间隙壁之该第二源/汲极 相接触的该金属层亦裸露而未被该光阻层覆盖; 以该光阻层为罩幕,去除未被该光阻层覆盖之部份 该金属层; 去除该光阻层; 进行一离子植入步骤,其中该离子植入步骤包括以 复数个角度进行植入,使该第二源/汲极与该第二 轻掺杂汲极转换为重掺杂之一第三源/汲极; 进行一快速热制程,使得与该第一闸极、该第一间 隙壁、该第三源/汲极相接触之部份该金属层形成 一自行对准矽化物;以及 去除未反应之部份该金属层。11.如申请专利范围 第10项所述之静电放电保护电路的制造方法,其中 该金属层之形成方法包括溅镀法。12.如申请专利 范围第10项所述之静电放电保护电路的制造方法, 其中该金属层之材质包括钛。13.如申请专利范围 第10项所述之静电放电保护电路的制造方法,其中 该金属层之材质包括钴。14.如申请专利范围第10 项所述之静电放电保护电路的制造方法,其中定义 该光阻层之方法包括微影蚀刻法。15.如申请专利 范围第10项所述之静电放电保护电路的制造方法, 其中去除未被该光阻层覆盖之部份该金属层的方 法包括乾蚀刻。16.如申请专利范围第10项所述之 静电放电保护电路的制造方法,其中该离子植入步 骤所植入之离子与该第一源/汲极、该第一轻掺杂 汲极、该第二源/汲极具有相同之离子型态。17.如 申请专利范围第10项所述之静电放电保护电路的 制造方法,其中该些角度之范围为与该基底表面呈 15度-60度之间。18.如申请专利范围第10项所述之静 电放电保护电路的制造方法,其中去除该光阻层之 方法包括湿蚀刻。图式简单说明: 第一图A-第一图D为习知一种静电放电保护电路的 制造流程图; 第二图A-第二图G其绘示依照本发明较佳实施例的 一种静电放电保护电路的制造流程图;以及 第三图A-第三图F其绘示依照本发明较佳实施例的 另一种静电放电保护电路的制造流程图。
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