| 摘要 |
<p>Es werden eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Auffinden und zur Kategorisierung von Oberflächenfehlern eines zulaufenden Bandmaterials (5) vorgeschlagen mit einer Beleuchtungseinrichtung (1) zur Erzeugung einer Beleuchtungsfläche (A), mit einer Kameraanordnung (2) zur Aufnahme eines Bildes (B) einer Inspektionsfläche und mit einer Rechen- und Steuerungseinrichtung (3), wobei wenigstens eine Matrixkamera (4) vorgesehen ist und das Inspektionsflächenbild (B) in mindestens zwei getrennt auswertbare Bildabschnitte (D, E) unterteilt ist, insbesondere mindestens einen unbeleuchteten Bildabschnitt (D) außerhalb der Beleuchtungsfläche (A) und einen zumindest etwas beleuchteten Bildabschnitt (E) aufweist.</p> |
