摘要 |
Zum Erfassen oder Ermitteln der Lage- oder Winkeländerung oder eines Biegewinkels an einem Werkstück (2) und einem Werkstückschenkel (3) beim Biegen wird wenigstens ein von einer Meßstrahl- oder Lichtquelle (6) ausgehender Meß- oder Lichtstrahl, insbesondere in Form eines Lichtfächers (14) auf das Werkstück (2) gerichtet, damit dort ein entsprechendes Lichtmuster, insbesondere eine Licht-Linie (7) erzeugt wird. Diese kann mit Hilfe eines Empfängers, am besten mit einer Kamera (8) aufgenommen und detektiert werden, so daß eine Winkeländerung des Werkstückes (2) oder seines Eerkstückschenkels (3) aufgrund einer Lageänderung des Lichtmusters berechnet werden kann. Dabei wird die Meßstrahl- oder Lichtquelle (6) so angeordnet, daß die Licht-Linie (7) oder mehrere derartige Licht-Linien (7), die aber auch Symmetrie- oder Durchmesserlinien von geometrischen Formen sein können, parallel oder im wesentlichen parallel zur Biegelinie (11) verlaufen, so daß eine Änderung der Lage des Biegeschenkels (3) zu einer Parallelverschiebung dieser projizierten Linie (7) führt. Besonders zweckmäßig ist es dabei, wenn die Pixelreihen (9) der Kamera (8) gegenüber der von ihr aufgenommenen Licht-Linie (7) unter kleinem oder spitzem Winkel schräg verlaufen, was die Meßgenauigkeit erhöht.
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