发明名称 METHOD FOR PRODUCING A SEMICONDUCTOR DEVICE CONSISTING OF SILICON-CARBIDE AND COMPRISING A SCHOTTKY CONTACT ON A SURFACE THAT IS PRE-TREATED BY MEANS OF THERMAL OXIDATION AS WELL AS THE USE OF SAID METHOD
摘要 Bei der Herstellung einer SiC-Halbleitervorrichtung mit einem Schottky-Kontakt wird auf einer Oberfläche (21) eines alpha -SiC-Halbleitergebiets (11) eine SiO2-Schutzschicht (150) mittels trockener thermischer Oxidation erzeugt. Nach mindestens einem weiteren Verfahrensschritt wird die SiO2-Schutzschicht (150) im Bereich eines Kontaktfensters (160) wieder entfernt. Dann wird eine Schottky-Kontaktschicht (110) auf die Oberfläche (21) im Bereich des Kontaktfensters (160) aufgebracht.
申请公布号 WO0122474(A2) 申请公布日期 2001.03.29
申请号 WO2000DE03148 申请日期 2000.09.11
申请人 SICED ELECTRONICS DEVELOPMENT GMBH & CO. KG;FRIEDRICHS, PETER;PETERS, DETHARD;SCHOERNER, REINHOLD 发明人 FRIEDRICHS, PETER;PETERS, DETHARD;SCHOERNER, REINHOLD
分类号 H01L21/04;(IPC1-7):H01L/ 主分类号 H01L21/04
代理机构 代理人
主权项
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