发明名称 梯度磁场测量方法和MRI装置
摘要 为了精确地测量梯度磁场,施加预编码脉冲P<SUB>K</SUB>,在施加具有要测量的梯度波形的编码脉冲G<SUB>e</SUB>的同时从FID信号中采集数据S(k,1)-S(k,T),以不同的幅值的预编码脉冲P<SUB>k</SUB>重复上述步骤K次;从所采集的数据中得到具有以相位编码差ΔΦ作为角度的数据D(1,1)-D(1,T-1),D(2,1)-D(2,T-1),…,D(K,1)-D(K,T-1);将具有编码脉冲G<SUB>e</SUB>的相应幅值的数据相加得到加法数据d(1)-d(T-1);从加法数据中得到梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG(T-1);累计梯度磁场差值得到梯度磁场G(1)-G(T-1)。
申请公布号 CN1289053A 申请公布日期 2001.03.28
申请号 CN00128751.6 申请日期 2000.09.15
申请人 通用电器横河医疗系统株式会社 发明人 宫本昭荣;押尾晃一
分类号 G01R33/022;G01R33/20 主分类号 G01R33/022
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 陈霁;张志醒
主权项 1.一种梯度磁场测量方法,包括如下步骤:当T是从一个FID信 号中进行数据采集的次数并且K是等于或大于2的自然数时,施加激励 RF脉冲,施加预编码脉冲P<sub>k</sub>,在施加具有要测量的梯度波形的编码脉冲 G<sub>e</sub>的同时从FID信号中采集数据S(k,1)-S(k,T),以不同的幅值 的所说的预编码脉冲P<sub>k</sub>重复这些步骤K次;从所说的所采集的数据S(1, 1)-S(1,T),S(2,1)-S(2,T),…,S(K,1)-S(K,T)中 获得具有以相位编码差Δφ作为角度的数据D(1,1)-D(1,T-1),D (2,1)-D(2,T-1),…,D(K,1)-D(K,T-1);将具有所说的 编码脉冲G<sub>e</sub>的相应幅值的数据相加得到加法数据d(1)-d(T-1);从 所说的加法数据d(1)-d(T-1)中得到梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG (T-1);累计所说的梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG(T-1)得到梯度磁场 G(1)-G(T-1)。
地址 日本东京都